Characterization of structural defects in GST based nano PCM devices through resistance drift measurements

Cinar I., Egecan C., Aisha G., Gulen A., ÖZATAY Ö., ÇİFTÇİ H. İ.

American Physical Society March Meeting 2015, San-Antonio, Kuzey Mariana Adaları, 2 - 06 Mart 2015, cilt.60, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Cilt numarası: 60
  • Basıldığı Şehir: San-Antonio
  • Basıldığı Ülke: Kuzey Mariana Adaları
  • Boğaziçi Üniversitesi Adresli: Evet